测厚仪原理 激光测厚仪

测厚仪是一种用于测量物体厚度的工具。在这些仪器中,有测量放射性射线的测厚仪,使用机械触摸原理,使用涡流原理等。下面小编就来介绍一下测厚仪的原理和种类。

测厚仪原理 激光测厚仪大致有五种测量原理:

1.辐射测厚法:使用这种方法的仪器价格很高,一般只在特殊场合使用。

2.涡流测厚法:适用于测量导电金属非导电层的厚度,但其精度相对较低。

3.磁性测厚法:适用于测量导磁材料非磁性层中的厚度。一般用于:铁、钢、银等材料。测量精度相对较高。

4.电解测厚法:这种方法与其他方法不同,需要破坏涂层,精度不高。与其他厚度测量方法相比,它相对复杂。

5.超声波测厚法:适用于测量涂层较多、较厚的物体厚度,磁性测厚法和涡流测厚法无法测量厚度。但是价格较高,精度不高。

市场上测厚仪的测量方法多种多样,大致可分为以下两种类型:1。接触测厚仪。2.非接触测厚仪。接触式按接触面积可分为面接触测厚仪和点接触测厚仪。由于原理不同,非接触式测厚仪可分为以下几种:X射线测厚仪、电解测厚仪、涂层测厚仪、激光测厚仪和超声波测厚仪。

纸张测厚仪:适用于测量4毫米以下各种薄片材料的厚度。

超声波测厚仪:利用超声波脉冲反射的原理测量厚度,利用这一原理可以测量各种能够被超声波匀速传播的材料。

激光测厚仪:是一种非接触式测厚仪,利用激光反射的原理测量和观察零件表面的微观几何形状来测量物体的厚度。激光测厚仪可以直接输出信号并与工控机连接,快速处理数据并输出偏差值。激光测厚仪采用激光检测技术和防护措施,适用于测量温度较高的物体的厚度。其检测系统具有成本低、无辐射、易维护等优点。

不同种类的物体需要不同的测厚仪,因此如果我们要测量物体的厚度,我们必须首先分布物体的材料。

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